某10位M/D转换器低温下输出异常失效分析及改进建议
文章对转换器失效原因、失效机理进行了详细的分析,得出此次异常的电路低温故障是由于工艺偏差导致复位PMOS管闺值电压变低，充电速度下降，最高位寄存器滞后复位，在电路内部触发误脉冲所致。同时，因测试方法的差异，导致故障电路筛选过程中未能有效剔除而流入用户。针对此情况，建议：(1)经与该用户现场协商，后续针对提交该用户的SAD571(ADC)电路需采用输入固定模拟电压低温在线测试的方法进行加严筛选、控制。己交付用户的原状态尚未经历低温试验的产品建议用户返回二十四所进行低温在线测试筛选，剔除不合格品。(2)优化线路结构和版图，采用三层铝布线，降低寄生电容效应，从设计上彻底杜绝误脉冲的产生，更改后的产品送该用户验证。
转换器 单片模拟集成电路 异常失效机理 电路低温故障 质量控制
高炜祺 白璐
中国电子科技集团公司 第二十四研究所,重庆 400060
国内会议
2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会
大连
中文
332-337
2013-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）