通过某半导体模拟集成电路的失效分析改进设计,提高其可靠性

摘要：

近些年来,关于半导体模拟集成电路失效分析的研究越来越多,通过失效分析不仅可以发现设计、制造过程中存在的问题,同时可以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品可靠性.本文针对某差分接收器的一种失效模式进行较为深入的分析,发现该器件的设计缺陷,并改进设计,提高该产品的可靠性.

关键词： 差分接收器 失效模式 优化设计 产品可靠性

作者: 白璐 高兴国

作者单位: 中国电子科技集团公司 第二十四研究所,重庆

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 395-399

在线出版日期: 2013-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）