测试IGBT热阻的一种新方法

摘要：

本文采用一种测试器件热阻的新方法:瞬态双界面法,通过介绍该方法的原理，将其应用到大功率器件IGBT上，所得到的器件的结壳热阻值具有较高的精度。

关键词： 绝缘栅双极型晶体管 瞬态双界面法 结壳热阻值 精度分析

作者: 董少华

作者单位: 中国科学院微电子研究所,北京

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013‘全国半导体器件技术、产业发展研讨会暨第六届中国微纳电子技术交流与学术研讨会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 434-436

在线出版日期: 2013-07-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）