基于TDR技术的数字集成电路测试系统管脚时间同步测量方法

摘要：

随着数字电路测试系统测试速度的不断提高,测试周期越来越短,测试系统本身各种时间参量上的指标也随之不断提高.高端系统的边沿置放精度已经能达到百皮秒级.为了更准确地评估测试系统时间参量上的性能,本文分析了数字集成电路测试系统管脚时间同步误差形成的原因,并介绍了一种以时域反射技术(TDR)为基础的解决方法.

关键词： 数字集成电路 测试系统 管脚时间 同步精度 时域反射技术

作者: 顾翼 石坚

作者单位: 武汉数字工程研究所,湖北 武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013无线电、电离辐射计量与测试学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 88-92

在线出版日期: 2013-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）