在片S参数溯源方法探究

摘要：

针对在片S参数的溯源问题,本文提出了将在片S参数验证件溯源至直流电阻标准和几何量长度标准的方法,并建立了适当的模型.通过与Cascade在片校准件测量结果的对比分析,论证了方法的可行性.

关键词： 微波单片放大器 矢量网络分析仪 在片S参数 结构模型 测量误差

作者: 刘晨 吴爱华 孙晓颖 梁法国 郑延秋

作者单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所,河北 石家庄 050051

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013无线电、电离辐射计量与测试学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 260-262

在线出版日期: 2013-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）