基于单片机的通用测试模块设计

摘要：

介绍一种基于单片机的测试模块设计方法.采用51系列单片机,对硬件电路进行模块化设计;采用C语言对软件(核心)部分进行设计.所设计的模块供专用测试设备使用,可以有效地提高其通用性、可扩展性和可维护性,具有较强的实用价值.

关键词： 通用测试系统 模块化设计 单片机

作者: 黄为平

作者单位: 中航工业洪都航空工业集团计量中心,江西南昌330024

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013年全国几何量、力学专业计量测试技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 28-30

在线出版日期: 2013-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）