正压吸枪检漏与真空室检漏对单点漏率测试研究
航天器真空室检漏中由试件安装缺陷造成的单点工艺连接泄漏无法从真空室检漏总漏率中刨除.因此,对单点进行氦质谱吸枪检漏法与真空室法漏率测试研究具有重要的工程意义.文章通过试验给出两种检漏方法对单点漏率测试的漏率数据,经过理论分析得到了同一漏点在两种检漏方法下所测得漏率的关系,并研究了随着压力变化,气体流动状态的改变对漏率的影响.结果表明:用吸枪检漏法与真空室法测单点的漏率具有较好的一致性,所得结论可以为产品漏率测试的具体实施提供重要的理论依据.
航天器 密封性能 单点漏率测试 氦质谱吸枪检漏法 真空室检漏法
赵建超 史纪军 张海峰 齐飞飞 李文斌
五院总装与环境工程部
国内会议
中国真空学会质谱分析和检漏专业委员会第十七届年会、中国计量测试学会真空计量专业委员会第十二届年会
天津
中文
119-124
2013-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）