密封器件背压漏率检测方法

摘要：

定量准确地测量密封器件漏率值是航天型号产品关键性能指标保证的一项重要手段,关系到航天产品在轨使用寿命.本文详述了密封器件背压检漏的理论计算、试验检测方法及最终漏率值的确定等内容.

关键词： 航天器 密封电子器件 氦质谱背压检漏法 漏率值

作者: 黄宏 葛瑞宏 陈联 李海阳 丁栋

作者单位: 兰州空间技术物理研究所,真空低温技术与物理重点实验室,甘肃,兰州730000

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国真空学会质谱分析和检漏专业委员会第十七届年会、中国计量测试学会真空计量专业委员会第十二届年会

会议地点: 天津

会议语种:中文

页码: 134-138

在线出版日期: 2013-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）