斜入射硅基液晶调制特性研究

摘要：

建立了斜入射方式硅基液晶相位调制模型,并进行了仿真研究,得到了相位延迟-电压曲线图.实验中对斜入射方式的相位调制特性进行了测量,并得到了较好的全息成像效果,避免了使用分光棱镜,提高了光能利用率,简化了光学系统.

关键词： 硅基液晶空间调制器 相位调制特性 全息成像实验 仿真分析

作者: 杨磊 夏军 张晓兵

作者单位: 东南大学电子科学与工程学院 南京210096

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届华东三省一市真空学术交流会

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 200-205

在线出版日期: 2013-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）