用磁过滤弧生长的ta-C膜
用磁过滤弧法在单硅、熔凝石英以及硼硅玻璃衬底上生长了ta-C膜。用椭偏仪、XPS谱技术、以及Raman光谱技术对不同靶偏压条件下生长的ta-C膜膜进行了研究。对于硅单晶衬底上生长的ta-C膜,靶偏压在-100伏附近有最接近金刚石的折射率值。在-80伏的靶偏压下生成的ta-C膜的SP〈’3〉键的含量为78.8℅。
ta-C膜 磁过滤弧 SP〈’3〉键
田人和 王广甫 吴瑜光
师范大学低能核物理研究所,射线束与材料工程开放实验室
国内会议
长沙
中文
431~433
1999-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)