基于CT的测量技术与接触式及光学CMM测量精度对比研究

摘要：

为了研究CT测量精度及其影响因素,本文选择了一个包含内外特征的模体作为测量对象,分别使用工业CT、接触式CMM和光学CMM测量设备对模体进行独立测量,将工业CT测量结果与已知精度的接触式CMM和光学CMM测量结果进行偏差比较,分析了影响CT测量精度的误差来源,并提出了改进方案,将CT测量误差控制在25μm以下.

关键词： 三坐标测量机 无损检测 精度分析 电子计算机扫描技术

作者: 李敬 陈浩 陈思 李寿涛

作者单位: 中国工程物理研究院应用电子学研究所,绵阳,621900;国家X射线数字化成像仪器中心,绵阳,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 2013远东无损检测新技术论坛

会议地点: 济南

会议语种:中文

页码: 292-299

在线出版日期: 2013-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）