可测试性设计在一款雷达信号处理芯片中的应用

摘要：

可测试性设计为深亚微米数字集成电路的测试提供了一种有效的解决方法.本文详细介绍了常见的可测试性设计原理及方法,包括扫描测试、内建自测试等.在一款雷达信号处理SOC芯片中边界扫面测试和存储器内建自测试等被采用为可测试性设计解决方案,成功为谈芯片实现可测试性设计.

关键词： 雷达信号 处理芯片 可测试性设计

作者: 饶全林 何春 刘辉华

作者单位: 电子科技大学电子科技研究院,成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 电子科技大学电子科学技术研究院第三届学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 44-48

在线出版日期: 2007-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）