高速高精度ADC测试技术的研究

摘要：

本文给出了ADC的主要性能参数,介绍了业界常用的直方图和FFT两种ADC参数测试方法,指出了ADC测试系统的搭建和评估板设计需要注意的事项,提出了高速高精度ADC测试所面临的挑战和解决方法.

关键词： 电子设备 接口元件 数据处理 性能指标 测试技术

作者: 易磊

作者单位: 电子科技大学电子薄膜和集成器件国家重点实验室 成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 电子科技大学电子科学技术研究院第三届学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 62-66

在线出版日期: 2007-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）