一种系统芯片的功能测试方法

摘要：

本文通过对一款系统芯片(System on Chip)——”成电之芯”的功能测试平台的搭建,介绍了一种实现系统芯片功能测试的方法.

关键词： 半导体集成电路 系统芯片 功能特性 测试方法

作者: 宗竹林 何春 刘伟 宗云

作者单位: 电子科技大学电子科学技术研究院 成都 610054

会议类型: 国内会议

会议名称: 电子科技大学电子科学技术研究院第三届学术交流会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 97-100

在线出版日期: 2007-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）