氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定氧化锆中多种杂质元素

摘要：

采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线.实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求.

关键词： 氧化锆材料 杂质元素 氢氟酸直接进样技术 电感耦合等离子体原子发射光谱法

作者: 李剑 孙友宝 马晓玲 陈建立 黄涛宏 谷口理 端裕树

作者单位: 岛津全球应用技术支持中心 上海200052 岛津制作所全球应用开发中心 日本京都6048511

会议类型: 国内会议

会议名称: 第一届全国有色金属分析检测与标准化技术交流研讨会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 31-32

在线出版日期: 2013-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）