同步辐射GI-XAFS技术研究表界面自组装体结构及相互作用机制
过去20多年里,基于同步辐射的X射线吸收谱在分子材料研究中起到了重要的作用,这归因于吸收谱在获取金属离子的氧化态、局域结构、近邻配位原子、吸附分子等重要信息方面发挥了重要作用.吸收谱与XPS,SEM等常用手段相比,除了可以获得重要的结构信息外,最大优势在于可以开展原位工作状态下材料的结构研究,同时还可以与X射线衍射,拉曼光谱,红外光谱,紫外光谱等其他重要手段联用,从而获得全方位立体信息.
金属配合物 表界面自组装体 结构特征 分子间相互作用 同步辐射
于海生 鲍洪亮 李炯 魏向军 张硕 王建强
中国科学院上海应用物理研究所,上海光源国家科学中心(筹),上海,201204
国内会议
杭州
中文
102-102
2013-01-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）