XRD法快速测定铝电解质相关含量

摘要：

本文提出了一种全新测定铝电解质成分方法,即XRD法.采用X射线衍射仪在3分钟时间内,可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等物相,并根据各物相的成分含量,计算出指导电解生产的分子比.为了此方法的应用推广,研制了一套适合测定上述成分的铝电解质标准样品.

关键词： 铝电解质 化学成分 X射线衍法 精度控制

作者: 李建智

作者单位: 陕县恒康铝业有限公司,河南 三门峡 472100

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 46-54

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）