X射线衍射法快速测算铝电解质初晶温度

摘要：

本文介绍了一种快速测定铝电解质初晶温度的方法-“X射线衍射法测算电解质初晶温度”.用X射线衍射法准确测定分子比、氟化钙、氧化铝、氟化镁、氟化锂、氟化钾等含量的同时,测算出铝电解质初晶温度.

关键词： 铝电解质 初晶温度 X射线衍射 精度控制

作者: 王宇昕 陆金生

作者单位: 抚顺铝业有限公司,辽宁 抚顺 113001 帕纳科公司,北京100045

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 72-79

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）