X-荧光光谱仪测角仪2θ角校正及漂移校正程序的建立

摘要：

对X-荧光光谱仪2θ角的偏移进行校正,同时利用已有标样,重新建立各元素回归曲线和漂移校正程序,使用稳定的且有适当X射线强度的样品对X射线强度进行校正,作为永久校正曲线.

关键词： X-荧光光谱仪 测角仪 故障处理 几何参数 精度控制

作者: 杜兴毅

作者单位: 杭州钢铁集团公司转炉炼钢厂 杭州310022

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 157-160

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）