X射线荧光光谱分析空气滤膜颗粒物中多种元素

摘要：

采用X射线荧光光谱分析空气滤膜采集悬浮颗粒物中的多种元素,样品不需要前处理,不使用试剂,测量1个样品中40余种元素约耗时1h.重复测量10次NIST SRM 2783空气滤膜标准样品,多数元素的测量值与标准值基本一致,测量值的标准偏差较小;测量20个空气滤膜实际样品,并与ICP-MS法作比对,大多数元素两种方法测量结果的相对偏差较小,测量值基本一致.

关键词： 空气滤膜 悬浮颗粒物 化学元素 X射线荧光光谱

作者: 刘少玉 包艳英 王炜

作者单位: 大连市环境监测中心,辽宁大连 116023

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 168-172

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）