钡永磁铁氧体半成品的XRF法定量测定

摘要：

介绍了X射线荧光光谱法(XRF)在钡永磁铁氧体半成品分析中的应用,对比了粉末压片和玻璃熔片两种制样方法,使用熔片法制样建立标准曲线测定了其中的Fe、Ba等元素的含量.结果表明,Fe、Ba等元素含量的测定偏差＜0.3％,平行测定9次相对标准偏差(RSD)可达到0.5％以下.与传统化学法测定相比,XRF可同时测定两种元素,测定每个样品仅需要1min,极大地提高了工作效率.

关键词： 钡永磁铁氧体 金属元素 X射线荧光光谱法 精度控制

作者: 朱泽民 张华 杜治国 陈立清

作者单位: 北矿磁材科技股份有限公司,北京100070

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 173-178

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）