粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素
介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法.研究了粉末压片法中助研剂的选择和用量,研磨时间、粒度对X射线荧光强度的影响.用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其分析结果SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、Ga2O3、ZnO的RSD均小于8.0％,P2O5、TiO2、V2O5、Cr2O3的含量在3倍检出限以上,RSD小于10％,含量在3倍检出限以下的RSD小于17％.用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准值的误差在化学分析国标允许差范围内.
氧化铝 粉末压片工艺 杂质元素 X射线荧光光谱法
张爱芬 孙爱丽 马慧侠 刘静
中国铝业股份有限公司郑州研究院,河南郑州450041
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201-206
2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）