熔融制样X射线荧光光谱法测定重晶石中主要组分

摘要：

采用熔融片制样法,用X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)小于6.0％.用标准物质进行验证,测量值与之基本一致.

关键词： 重晶石 化学成分 X射线荧光光谱法 质量控制

作者: 曾小平 宋武元 吴冰

作者单位: 华南理工大学分析测试中心,广州510640 广东出入境检验检疫局,广州510623

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第12届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 234-238

在线出版日期: 2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）