X射线荧光光谱测定金属镀层和镀层成分
为了对金属镀层和镀层成分进行快速分析,采用X射线荧光光谱仪测定963品镀镍层、962品铜锡合金镀层和镀层成分、(伪)金银币、金银纪念章的镀层分析和无氰电镀试制品的分析研究.XRF法的FP-Multi分析软件是利用基体元素初级荧光辐射对金属镀层中特定元素的二次荧光辐射强度增强的特点,基于基本参数法,采取多次迭代的数学运算来计算金属镀层的厚度和镀层成分.研究表明,用XRF法测定金属镀层样品中镀层和镀层成分是可行的.
金属镀层材料 厚度控制 化学成分 X射线荧光光谱
朱秀芬
上海造币有限公司技术中心 200061
国内会议
杭州
中文
257-263
2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）