波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分
采用波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、SiO2、CaO、K等7种成分,采用粉末压片法制取试样,对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,实验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件,确定了最佳分析参数;选择了与试样基体相匹配的样品,定值后建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正.对于主次量组分,方法精密度低于1％(n=1 1).方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与化学分析值相符.方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析.
氧化钼 矿物鉴定 化学成分 波长色散X射线荧光光谱法 产品质量
田文辉 王宝玲 赵永宏 苏雄
金堆城钼业股份有限公司监测中心,陕西 渭南 714102
国内会议
杭州
中文
306-310
2012-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）