铜纳米线弹性模量原位测试

摘要：

铜纳米线具有良好的电导率与热导率,将作为主要元件而广泛应用于微纳器件、光电子器件,因而其力学性能的测量对于纳米器件的设计制造至关重要.本文介绍了利用扫描电子显微镜和扫描探针显微镜联合测试系统对铜纳米线进行原位弯曲实验,通过分析得到铜纳米线的力学性能.实验结果表明铜纳米线的弹性模量在研究范围内存在尺寸效应.

关键词： 光电子器件 铜纳米线 弹性模量 原位测试

作者: 张长辉 张跃飞 王丽 韩晓东 吉元 马捷 张泽

作者单位: 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京 100124 北京工业大学材料学院 北京工业大学固体微结构与性能研究所,北京 100124;浙江大学材料科学与工程系,浙江 杭州 310058

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 110-112

在线出版日期: 2012-08-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）