XRD法快速测定铝电解质中锂含量

摘要：

X射线衍射法已经成功的用于日常分析,由于新方法的测量时间比化学法缩短了2160倍,用10秒钟代替了6小时.而且新方法测量的重现性优于化学法,新方法提供的数据及时监控生产工艺.为节能减排做出了重大贡献.测量出铝电解质中氟化锂含量后，对衍射法测量的分子比值进行修正，修正值表示:假如在电解质中不含氟化锂时的分子比值，同时提供这两个值，对于生产冶炼的质量控制是非常重要的。

关键词： 铝电解质 冶炼工艺 X射线衍射技术 氟化锂含量 质量控制

作者: 李建智

作者单位: 陕县恒康铝业有限公司,三门峡472100

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 140-143

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）