永磁铁氧体半成品的XRF法定量测定

摘要：

本文介绍了X射线荧光光谱法(XRF)在永磁铁氧体半成品分析中的应用,使用标准曲线测定了其中的Fe、Sr、Si等元素的含量.结果表明,Fe、Sr、Si等元素含量的测定偏差＜0.3％,平行测定11次相对标准偏差(RSD)可达到0.1％.与传统化学法测定相比,XRF可同时测定三种元素,每个样品测定时间在2分钟以内,极大的提高了工作效率.

关键词： 永磁铁氧体 X射线荧光光谱 微量元素 含量测定

作者: 杜治国 朱泽民

作者单位: 北矿磁材科技股份有限公司,北京102600

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 199-203

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）