X射线荧光光谱法测定重晶石的化学成分

摘要：

研究应用X射线荧光光谱分析法测定重晶石中多种元素.采用熔融片制样,从而消除矿物结构效应,并降低基体效应的影响,研究了熔样的条件,确定仪器最佳参数,最后建立工作曲线.经过实验证明,本法快速、准确,能很好地对重晶石进行测定,不仅大大缩短了分析时间,提高了工作效率,而且降低了劳动强度.

关键词： 重晶石 X射线荧光光谱法 熔融制样 化学成分

作者: 仵利萍 刘卫

作者单位: 中国地科院成都矿产综合利用研究所,四川成都610041

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 210-215

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）