X荧光法定量测定铝锭中的杂质元素

摘要：

为了对原材料铝锭进行快速分析,应用X射线荧光光谱法对铝锭中杂质元素Mg、Si、Fe、Cu、Zn、Ga进行定量分析,制定分析方法时选择良好的工作条件,利用光谱干扰校正系数、基体效应校正系数,来消除元素之间的光谱干扰和基体效应,得到良好的工作曲线.实验表明:该方法简便快速,试样经过数据分析比对,有比较好的重现性.

关键词： 铝锭 X射线荧光光谱法 光谱干扰 基体效应 杂质元素 含量测定

作者: 朱秀芬

作者单位: 上海造币有限公司技术中心 200061

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 222-230

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）