X射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量

摘要：

用X射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量.该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要.选择合适的测量条件，建立良好的工作曲线，X荧光光谱光谱法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量是可行的。本法准确度高，精密度较好，能满足氧化铝分析的需要。

关键词： 铝电解工业 氧化铝 X射线荧光光谱仪 直接压片法 三氧化二镓 含量测定

作者: 张晓平

作者单位: 包头铝业有限公司,内蒙古包头市014046

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科第11届用户X射线分析仪器技术交流会

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 276-278

在线出版日期: 2010-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）