X射线荧光分析中的样品制备技术(摘要)

摘要：

本文首先介绍了X射线荧光技术的快速发展，然后介绍采用常规WDXRF和EDXRF技术进行整体分析时，样品制备的一些基本理念和技术。

关键词： X射线荧光 样品制备 技术分析

作者: 詹秀春

作者单位: 国家地质实验测试中心,北京100037

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 197-200

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）