X射线荧光光谱法测定四氧化三锰中杂质含量

摘要：

在四氧化三锰中准确加入不同含量的杂质元素,采用标准加入法得到四氧化三锰中原杂质元素的含量,并以此建立测定四氧化三锰杂质含量的工作曲线.经对已知含量样品的测定表明,XRF分析结果的准确度和精密度与化学法相当.

关键词： 电子工业 四氧化三锰 X射线荧光光谱 杂质含量

作者: 陈思学 骆艳华 王凡 王克玉

作者单位: 中钢集团安徽天源科技股份有限公司技术中心,安徽马鞍山,243000

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 243-248

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）