X射线荧光光谱法测定铁矿中铁等多种元素

摘要：

采用熔融片制样,加入钴元素(CoKα)作铁的内标,用X射线荧光光谱法测定铁等多种元素.用多种类型铁矿标准样品作为校准,用理论α系数内标法及康普敦散射作内标校正基体效应.本法最大的绝对误差TFe≤0.23％.满足了ISO9507”1”对TFe分析结果准确度的要求(TFe≤0.3％).

关键词： 炼铁工业 铁矿石 元素分析 X射线荧光光谱法

作者: 李小莉 安树清

作者单位: 天津地质矿产研究所,天津300000

会议类型: 国内会议

会议名称: 帕纳科中国第十届X射线分析仪器用户技术交流会

会议地点: 大连

会议语种:中文

页码: 384-388

在线出版日期: 2008-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）