单晶体应力测量的X射线衍射分析

摘要：

本文采用Hiroshi SUZUKI等人提出的多步回归分析方法,结合不对称布拉格衍射,对CdZnTe单晶片的残余应力进行了测量.与传统的单晶体应力测量方法比较,这种新方法可以准确测定平面应力状态下的单晶体应力而不受d0值不可靠所带来的影响.

关键词： 单晶体 应力测量 x射线衍射 多步回归分析

作者: 黄斌 杨延清 曾冬梅 艾艳玲

作者单位: 西北工业大学材料学院,西安710072

会议类型: 国内会议

会议名称: 荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

会议地点: 河北香河

会议语种:中文

页码: 19-24

在线出版日期: 2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）