多层膜微结构参数的低角X射线衍射分析
各种铁磁性金属、非铁磁性金属组成的磁性多层膜系统的性质及微结构的研究是凝聚态物理及材料科学中的一个热点.它们的巨磁电阻(GMR)效应强烈地依赖于多层膜的微结构,如周期厚度、界面粗糙度、生长取向以及晶粒度等,采用掠入射X射线衍射分析(GIXA)法表征多层膜的微结构,具有无损和空间分辨率高的特点.通过GIXA可获得有关薄膜的密度、厚度以及表面粗糙度等微观结构信息.本文将结合X”pert MRD的设备功能,对上述有关的分析方法进行评述.
功能材料 磁性多层膜系统 微观结构 性能参数 低角X射线衍射
王超群 纪红
北京有色金属研究总院 10088
国内会议
河北香河
中文
76-79
2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）