X-射线衍射法测定碳电极的晶粒度

摘要：

X-射线具有波动的特性,它的波动性主要表现为以一定的频率和波长在空间传播,衍射现象就突出地表现出它的波动特性.X-射线衍射仪就是利用X-射线波动性的原理,实现晶体的衍射功能.从而可以精确测定晶体的结构参数.由于碳电极的晶粒尺寸大小与阳极的寿命有着密切关系,因此利用X-射线衍射方法测定碳电极的晶粒度,可以确保阳极的质量,为提高电解铝的生产工艺提供可靠的数据.

关键词： 电解铝工业 碳电极 晶粒度测定 X-射线衍射法

作者: 贾力荣

作者单位: 辽宁省抚顺市抚顺铝业有限公司质量检验中心晶形组 113001

会议类型: 国内会议

会议名称: 荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

会议地点: 河北香河

会议语种:中文

页码: 88-91

在线出版日期: 2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）