X射线荧光光谱法测定铬矿中Cr、Fe、Ca、Si、S、P等元素

摘要：

采用熔融法制样,用X射线荧光光谱仪对铬矿中Cr、Fe、Si、S、P等组分进行测定,重点讨论了元素的背景选择和谱线重叠校正问题,用理论α系数法进行基体效应和谱线重叠干扰校正.用该法测定进口铬矿样品,其测试结果与化学分析值基本相符,回收率在96.3％-103.2％范围.

关键词： 铬矿 元素测定 X射线荧光光谱 理论α系数法

作者: 张立霞 曲强 宋嘉宁 黄健 袁亚忠

作者单位: 广东湛江出入境检验检疫局 广东湛江524022

会议类型: 国内会议

会议名称: 荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

会议地点: 河北香河

会议语种:中文

页码: 218-221

在线出版日期: 2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）