x荧光熔片法测定人造富矿中主要成分的新方法

摘要：

本文尝试去除钴内标，采取增大熔剂稀释比、利用PANalytical Axios PW4400仪器的优越性,对人造富矿中主要成分的测定进行了实验,给出了元素的干扰和基体效应校正系数,分析数据准确可靠.

关键词： 人造富矿 元素干扰 成分分析 基体效应 校正系数 x荧光光谱法

作者: 任校丹 刘磊

作者单位: 济南钢铁集团总公司技术监督处,山东济南250101

会议类型: 国内会议

会议名称: 荷兰帕纳科公司第九届用户经验交流会

会议地点: 河北香河

会议语种:中文

页码: 225-228

在线出版日期: 2006-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）