基于亚像素精度的任意宽度直线反走样算法

摘要：

针对地图可视化中地图及地图符号边界出现走样现象,提出了亚像素精度的任意宽度直线反走样算法,结合数值微分(DDA)算法和亚像素精度直线反走样算法,计算有宽度直线的边界像素点的整数坐标位置以及像素点的覆盖面积,从而计算边界像素点的绘制亮度,再结合直线的本来亮度值来确定边界像素点的最终亮度值,从而使边界像素变化平滑,减少边界的锯齿.仿真结果表明,改进算法的像素亮度等级能够达到较高等级,生成的地图符号边界比较细腻,反走样效果好,在地图可视化中得到较好的应用.

关键词： 地图可视化 直线反走样算法 亚像素精度 仿真分析

作者: 桂丽娟 申闫春

作者单位: 北京信息科技大学虚拟现实与系统仿真研究所,北京100192

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国计算机用户协会仿真应用分会成立三十周年庆祝大会暨2013全国仿真技术学术会议

会议地点: 呼和浩特

会议语种:中文

页码: 244-247,281

在线出版日期: 2013-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）