基于PL-EL图像对晶体硅电池隐性缺陷的监测

摘要：

本文通过从实验中提取的特征图像,报道了黑边片,位错片等晶体硅片中原生缺陷对太阳能电池效率的影响;通过从原生晶体硅片到成品电池PL图像以及EL图像特征,不仅可以发现原生硅片的隐性缺陷,而且可以找出生产工艺波动、辅料质量等对太阳能电池效率降低产生的影响.

关键词： 晶体硅电池 隐形缺陷 发光图像 工艺优化

作者: 杨畅民 黄卓 闫明 黄国华

作者单位: 西安理工大学理学院,710054 西安交通大学理学院,710049 陕西众森电能科技有限公司,710018

会议类型: 国内会议

会议名称: 第13届中国光伏大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 139-142

在线出版日期: 2013-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）