晶体硅光伏组件EL检测出的黑片缺陷失效分析

摘要：

本文采用电致发光(EL)图像检测方法,对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的4种不同类型的缺陷黑片进行分析,并通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能量色散X射线能谱(EDX)等手段进行快速的分析和确认,为优化制备工艺,控制产品质量提供依据.

关键词： 晶体硅太阳电池 黑片缺陷 电致发光图像检测方法 质量控制

作者: 龚海丹 王国峰 朱景兵

作者单位: 无锡尚德太阳能电力有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第13届中国光伏大会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 153-161

在线出版日期: 2013-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）