IBC插指背接触太阳能电池中工艺过程对少子寿命的变化影响分析
N型插指背结背接触太阳能电池(IBC,Interdigitated Back-contact SolarCells)具有超过20％的光电转化效率,因此得到了光伏研究领域的极高关注.针对IBC电池制备工艺中出现的短路电流急剧衰减问题,本文采用QSS-μPCD(准稳态微波光电导衰减法)测试方法对IBC电池中前表面场的钝化和N型衬底的本体少子寿命进行测试研究.结合电晕CV测试方法确定IBC电池中的高温工艺对衬底少子寿命的影响,对IBC电池的前表面复合速率、发射极饱和电流和Implied Voc等参数的优化贡献,并揭示了各参数衰减的物理机理.
插指背结背接触太阳能电池 制备工艺 少子寿命 准稳态微波光电导衰减法
陈晨 张巍 贾锐 贾锐 邢钊 张代生 张代生 金智 刘新宇
中国科学院微电子研究所,北京100029
国内会议
北京
中文
184-187
2013-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）