会议专题

钡永磁铁氧体半成品的XRF法定量测定

介绍了X射线荧光光谱法(XRF)在钡永磁铁氧体半成品分析中的应用,对比了粉末压片和玻璃熔片两种制样方法,使用熔片法制样建立标准曲线测定了其中的Fe、Ba等元素的含量。结果表明,Fe、Ba等元素含量的测定偏差<0.3%,平行测定9次相对标准偏差(RSD)可达到0.5%以下。与传统化学法测定相比,XRF可同时测定两种元素,测定每个样品仅需要1min,极大地提高了工作效率。

钡永磁铁氧体 X射线荧光光谱法 含量测定 玻璃熔片法

朱泽民 张华 杜治国 陈立清

北矿磁材科技股份有限公司, 北京 100070

国内会议

第十届全国X射线光谱学术报告会

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40-47

2013-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)