用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率
面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能的检测到小时延缺陷.超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法,能有效的提高测试质量.同时,文章首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择的进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷结点的跳变时延故障覆盖率(TDF).在ISCAS’89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生在低的cpu时间里能取得更高的跳变时延故障覆盖率.
超大规模集成电路 超速测试 小时延缺陷 故障覆盖率 敏化方法
魏建龙 邝继顺
湖南大学信息科学与工程学院 湖南长沙 410082
国内会议
重庆
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2013-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）