一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法
提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法.对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中.为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩.实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试.
集成电路 内建自测试技术 聚类压缩 移位压缩 实验设计
涂吉 王子龙 李立健
中国科学院自动化研究所 北京 100190
国内会议
重庆
中文
1-5
2013-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）