设计错误注入验证方法综述
设计错误注入在数字集成电路验证中广泛应用,可用于评估验证质量和指导激励生成.首先介绍设计错误注入验证方法的基本原理,然后介绍设计错误注入验证领域的主要研究方向,以及这些研究工作针对设计错误注入验证方法的3个最基本问题:设计错误模型选择、设计错误注入和针对设计错误的激励生成所提出的解决方法.
数字集成电路 功能验证 设计错误注入 激励生成
王健 王天成 李华伟 李晓维
中国科学院计算技术研究所 计算机体系结构国家重点实验室 北京100090;中国科学院大学 北京100049 中国科学院计算技术研究所 计算机体系结构国家重点实验室 北京100090
国内会议
重庆
中文
40-46
2013-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）