FPGA测试的研究发展

摘要：

随着FPGA集成度和微电子工艺的提升,其系统的复杂性必然导致电路中存在各种故障的隐患,因此,为了保证整个芯片的可靠性和安全性,对FPGA的测试尤为重要.目前,测试成为影响FPGA产业发展的重要因素,在该研究中,首先介绍FPGA的背景及其特点,然后提出了对于FPGA测试的必要性,并基于静态随机访问存储器(SRAM)型FPGA的基本结构,分别从可编程资源和存储模块介绍了几种测试技术,最后对当前FPGA测试方面的热点和发展趋势进行了展望和探讨.该研究对FPGA测试发展具有深远的意义.

关键词： 集成电路 现场可编程门阵列 性能测试 静态随机访问存储器

作者: 董寅冬 王伟 张欢 杨国兵 陈田 李润丰

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院 合肥230009 情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室 合肥230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十五届全国容错计算学术会议(CFTC”13)

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 51-56

在线出版日期: 2013-07-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）