发展中的ICP光谱分析技术

摘要：

ICP光谱分析技术具有商品类型多、检出限低、测定精密度高等优点，同时也具有氢气耗量大、通用雾化进样系统效率过低、复杂基体样品的光谱干扰不易解决等缺点。作者就当前ICP光谱的研究和发展需解决降低ICP光源工作气体氢气的用量、进样系统、高频电源的频率的影响等问题进行了论述。

关键词： 原子发射 光谱分析 电感耦合等离子体 性能评价

作者: 辛仁轩

作者单位: 北京清华大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年北京光谱学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 38-39

在线出版日期: 2010-01-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）