硅片光致发光检测中目标图像的分割方法

摘要：

　　利用数字图像处理技术对硅片进行光致发光缺陷检测，首先需要将目标硅片图像从光致发光图像背景中分割出来，然后再对目标硅片图像进行处理和分析。本文利用图像边缘检测和霍夫变换直线检测相结合的方法，将目标硅片图像从背景图像中分割出来。经过实验证明本文的方法可行，并且具有良好的实时性和准确性。

关键词： 目标分割 边缘检测 霍夫变换 直线检测

作者: 张玮华 薛永胜 刘小宇 肖颖婕

作者单位: 上海太阳能工程技术研究中心有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届中国太阳级硅及光伏发电研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 1-7

在线出版日期: 2012-12-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）